TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀通過穿刺試驗(yàn)測(cè)試不同品牌巧克力的硬度

將樣品在實(shí)驗(yàn)前從包裝袋中取出，切至為大小均一的巧克力塊。

測(cè)試前，對(duì)TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀進(jìn)行檢查，對(duì)力量感應(yīng)元進(jìn)行清零。

將探頭和樣品調(diào)整至合適的高度，進(jìn)行重量校準(zhǔn)（單次下壓一定距離時(shí)，不需對(duì)高度進(jìn)行校準(zhǔn)），隨后將樣品放置在探頭的中心下，根據(jù)試驗(yàn)需要，選擇所需測(cè)試指標(biāo)（大正力），開始試驗(yàn)。

用TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀通過穿刺試驗(yàn)測(cè)試不同品牌巧克力的硬度的原理是一旦感應(yīng)力達(dá)到5g，探頭開始穿刺6mm的深度。力開始快速的增加由于穿透了樣品表面，然后力開始保持穩(wěn)定的狀態(tài)，直到實(shí)驗(yàn)結(jié)束。A樣品硬度小，峰值少，而B樣品硬度大，峰值多，這是由于A樣品在刺穿的過程中，未斷裂，且巧克力內(nèi)層結(jié)構(gòu)明顯較外層軟，所有在個(gè)峰值后突然減小；而B樣品在刺穿過程中均斷裂，所以有多個(gè)峰值出現(xiàn)。顯然在保證樣品結(jié)構(gòu)不改變（不斷裂）的情況下，數(shù)據(jù)重復(fù)性更好。

數(shù)據(jù)分析：分析曲線大正峰值, 2種樣品，進(jìn)行6次重復(fù)的分析結(jié)果(+/-SD.)（不合適數(shù)據(jù)需剔除），如下：樣品A的堅(jiān)固性的大正峰值是979.6+/-67.45；樣品B的堅(jiān)固性的大正峰值是3313.45 +/-85.75。

樣品的均一性對(duì)于試驗(yàn)結(jié)果非常重要；

測(cè)試過程中，對(duì)于一些不確定是否重復(fù)性好的測(cè)試（樣品凹槽處刺穿），需先進(jìn)行檢驗(yàn)，若不行，則剔除；

可以修改實(shí)驗(yàn)參數(shù)，比如穿刺的深度，這將改變硬度的數(shù)值。任何一個(gè)數(shù)值的獲得都是同穿刺的深度聯(lián)系的；

儲(chǔ)存、包裝和處理樣品對(duì)實(shí)驗(yàn)而言都是可變的參數(shù)。保持這些參數(shù)的一致對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的對(duì)比有著重要的意義。